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机译:采用光散射技术的多部分差分分析设备。
公开/公告号DE311655T1
专利类型
公开/公告日1989-11-16
原文格式PDF
申请/专利权人 COULTER ELECTRONICS INC. HIALEAH FLA. US;
申请/专利号DE19880903074T
发明设计人 RODRIGUEZ M. CARLOS MIAMI FL 33175 US;COULTER H. WALLACE MIAMI SPRINGS FL 33166 US;
申请日1988-03-14
分类号G01N33/48;
国家 DE
入库时间 2022-08-22 06:11:14
机译: 采用光散射技术的多部分差分分析设备。
机译: 利用光散射技术的多部分差异分析装置。
机译: 光散射装置,光散射测定方法,光散射分析装置以及光散射测定分析