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Plasma - ion sources - a mass spectrometer for trace elements

机译:等离子体-离子源-微量元素质谱仪

摘要

a plasma mass spectrometer ion sources for trace elements, which is equipped with a plasma erzeugungsabschnitt, a beam - erzeugungsabschnitt, a beam - fokussierabschnitt, a ionenmassen - analysiererabschnitt and an ion detektorabschnitt is revealedit also has a resonance ladungsaustausch - reaktionsabschnitt and ion power - analysiererabschnitt, although the two sections between the ion - fokussierabschnitt and ionenmassen - analysiererabschnitt are arranged and which are constructed such that the einfal loins ion contained fastinterfering ions in the resonance ladungsaustausch - reaktionsabschnitt in fast neutral atoms (or molecules) and slow, disturbing ions converted, and that fast neutral atoms (or molecules) and the above described, slow, interfering ions are separated to the z the sample ions to be removed.
机译:等离子体质谱仪中用于痕量元素的离子源,该离子源配备了等离子体erzeugungsabschnitt,束-erzeugungsabschnitt,束-fokussierabschnitt,ionenmassen-analysiererabschnitt和离子detektorabschnitt,还揭示了共振ladunganaerierstiontsch- ,尽管安排了离子-fokussierabschnitt和ionenmassen-analysiererabschnitt之间的两个部分,并构造成使得einfal里昂离子在ladungsaustausch共振中包含快速干扰离子-快速中性原子(或分子)中的reaktionsabschnitt以及转换缓慢的干扰离子,快速的中性原子(或分子)和上述缓慢的干扰离子分离到z待去除的样品离子上。

著录项

  • 公开/公告号DE3940900A1

    专利类型

  • 公开/公告日1990-06-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HITACHI LTD. TOKIO/TOKYO JP;

    申请/专利号DE19893940900

  • 发明设计人 OKAMOTO YUKIO SAGAMIHARA JP;

    申请日1989-12-11

  • 分类号H01J49/10;G01N27/62;H01J49/28;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-22 06:10:00

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