首页>
外国专利>
Plasma - ion sources - a mass spectrometer for trace elements
Plasma - ion sources - a mass spectrometer for trace elements
展开▼
机译:等离子体-离子源-微量元素质谱仪
展开▼
页面导航
摘要
著录项
相似文献
摘要
a plasma mass spectrometer ion sources for trace elements, which is equipped with a plasma erzeugungsabschnitt, a beam - erzeugungsabschnitt, a beam - fokussierabschnitt, a ionenmassen - analysiererabschnitt and an ion detektorabschnitt is revealedit also has a resonance ladungsaustausch - reaktionsabschnitt and ion power - analysiererabschnitt, although the two sections between the ion - fokussierabschnitt and ionenmassen - analysiererabschnitt are arranged and which are constructed such that the einfal loins ion contained fastinterfering ions in the resonance ladungsaustausch - reaktionsabschnitt in fast neutral atoms (or molecules) and slow, disturbing ions converted, and that fast neutral atoms (or molecules) and the above described, slow, interfering ions are separated to the z the sample ions to be removed.
展开▼