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CIRCUIT ARRANGEMENT FOR THE SYNCHRONOUS MEASURING OF AMPLITUDE-FREQUENCY CHARACTERISTICS AND REFLEXIVE DUMPING OF RADIOFREQUENCY CIRCUITS WITH SPRCTRUMANALYSER

机译:用频谱分析仪同步测量幅频特性和射频电路的自反转换的电路布置

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号HU202326B

    专利类型

  • 公开/公告日1991-02-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HIRADASTECHNIKA SZOEVETKEZETHU;

    申请/专利号HU19860004663

  • 发明设计人 ERDEIISTVANHU;

    申请日1986-11-12

  • 分类号G01R23/16;

  • 国家 HU

  • 入库时间 2022-08-22 05:58:40

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