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High reliability plastic package for integrated circuits

机译:用于集成电路的高可靠性塑料封装

摘要

A high reliability plastic package (30) which includes palladium plated and solder dipped leads (18) for electrical connection to electrical components as well as a support (10) for electrically contacting a seminconductor integrated circuit device is disclosed. A method for manufacturing such package is also disclosed.
机译:公开了一种高可靠性塑料封装(30),其包括用于电连接至电气部件的镀钯和浸焊引线(18)以及用于电接触半导体集成电路器件的支撑件(10)。还公开了一种用于制造这种包装的方法。

著录项

  • 公开/公告号EP0384586A3

    专利类型

  • 公开/公告日1991-03-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED;

    申请/专利号EP19900300934

  • 发明设计人 MCLELLAND ROBERT N.;

    申请日1990-01-30

  • 分类号H01L23/495;H01L21/48;H01L23/02;H01L23/50;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-22 05:53:27

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