首页> 外国专利> METHOD OF DETERMINING PARAMETERS OF ROUGHNESS OF OPTICAL SURFACE

METHOD OF DETERMINING PARAMETERS OF ROUGHNESS OF OPTICAL SURFACE

机译:测定光学表面粗糙度的方法

摘要

the invention u043eu0442u043du043eu0441u0438u0442u0441u00a0 to measurement technique and can be used, in particular, u0434u043bu00a0 u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu0435u043du0438u00a0 optical surface roughness parameters.the purpose of u0438u0437u043eu0431u0440u0435u0442u0435u043du0438u00a0 - improved accuracy and increased the amount of information u0438u0437u043cu0435u0440u0435u043du0438u00a0 method by u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu0435u043du0438u00a0 roughness spectral density functions and by u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu0435u043du0438u00a0 and characteristic period and interval u043au043eu0440u0440u0435u043bu00a0u0446u0438u0438 roughness of the surface. previously, based on controlled surface create calendar optical waveguide.beam of light from the free space are the main trend u0432u043eu043bu043du043eu0432u043eu0434u0430, after which the main and auxiliary u0432u043eu043bu043du043eu0432u043eu0434u0430 u043fu0440u043eu0438u0437u0432u043eu0434u00a0u0442 measurement parameters.on the u0438u043du0434u0438u043au0430u0442u0440u0438u0441u0441u0435 u0440u0430u0441u0441u0435u00a0u043du0438u00a0 light u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu00a0u044eu0442 spectrum density of roughness surface, the corner u0432u043eu0437u0431u0443u0436u0434u0435u043du0438u00a0 main fashion u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu00a0u044eu0442 characteristic period step) and the interval u043au043eu0440u0440u0435u043bu00a0u0446u0438u0438 roughness and u0440u0430u0441u0441u0435u00a0u043du043du043eu0439 power u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu00a0u044eu0442 value u0441u0440u0435u0434u043du0435u043au0432u0430u0434u0440u0430u0442u0438u0447u043du043eu0433u043e u043eu0442u043au043bu043eu043du0435u043du0438u00a0 surface. w fe
机译:本发明 u043e u0442 u043d u043e u0441 u0438 u0442 u0441 u00a0可以用于测量技术,尤其可以用于 u0434 u043b u00a0 u043e u043f u0440 u04340 u0435 u0434 u0435 u043b u0435 u043d u0438 u00a0光学表面粗糙度参数。 u0438 u0437 u043e u0431 u0440 u0435 u0442 u0435 u043d u043d u0438 u00a0的目的-提高准确性并增加信息量 u0438 u0437 u043c u0435 u0440 u0435 u043d u0438 u00a0方法是通过 u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u043b u0435 u043d u0438 u00a0粗糙度光谱密度函数和 u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u0435 u043d u0438 u00a0和特征周期和间隔 u043a u043e u0440 u0440 u0435 u043b u00a0 u0446 u0438 u0438表面的粗糙度。以前,基于受控曲面创建日历光波导。来自自由空间的光束是主要趋势 u0432 u043e u043b u043d u043d u043e u0432 u043e u0434 u0430之后,主和辅助 u0432 u043e u043b u043d u043e u0432 u043e u0434 u0430 u043f u0440 u043e u0438 u0437 u0432 u043e u043e u0434 u00a0 u0442测量参数在 u0438 u043d u0434 u0434 u0434 u0430 u0442 u0440 u0438 u0441 u0441 u0435 u0440 u0430 u0441 u0441 u0435 u00a0 u043d u0438 u00a0灯 u043e u043f u0440 u04340 u0435 u0434 u0435 u043b u0435 u044e u0442粗糙表面,拐角处的光谱密度 u0432 u043e u0437 u0431 u0443 u0436 u0434 u0435 u043d u0438 u00a0主要样式 u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0434 u0435 u043b u043b u00a0 u044e u0442特征周期步长)和区间 u043a u043e u0440 u0440 u0435 u043b u00a0 u0446 u0438 u0438粗糙度和 u0440 u0430 u0441 u0441 u0441 u0435 u00a0 u043d u043d u043e u0439电源 u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u00a0 u044e u0442 va lue u0441 u0440 u0435 u0434 u043d u0435 u043a u0432 u0430 u0434 u0440 u0430 u0442 u0438 u0447 u043d u043e u0433 u043e u043e u043e u0442 u043a u043b u043b u043d u0435 u043d u0438 u00a0表面。 fe

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号