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机译:电子自旋共振分析仪的杂质剂量分析方法
公开/公告号KR910019161A
专利类型
公开/公告日1991-11-30
原文格式PDF
申请/专利权人 문정환;
申请/专利号KR19900005168
发明设计人 박오서;
申请日1990-04-13
分类号H01L21/66;
国家 KR
入库时间 2022-08-22 05:28:46
机译: 用于检测和/或分析同时具有核四极共振和核磁共振或双核四极共振的化合物的方法,用于检测和/或分析具有同时核四极共振和核磁共振的化合物的感测元件以及化合物的检测具有一组自旋核a和一组自旋核b以及用于检测具有双四极核共振或四极核共振和核磁共振的化合物的配置
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机译: 杂质分析方法,杂质分析气体采样装置,杂质气体分析仪以及半导体装置的制造方法