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机译:用双稳态腔谐振器测量光学组件的非线性折射率-系数的过程。
公开/公告号DE464798T1
专利类型
公开/公告日1992-08-13
原文格式PDF
申请/专利权人 CSELT-CENTRO STUDI E LABORATORI TELECOMUNICAZIONI S.P.A. TURIN/TORINO IT;
申请/专利号DE19910111042T
发明设计人 CALVANI RICCARDO PINO TORINESE (TO) IT;CAPONI. RENATO CAPONI. RENATO TORINO IT;
申请日1991-07-03
分类号G01R31/26;G01N21/41;G02F3/00;
国家 DE
入库时间 2022-08-22 05:25:27
机译: 用双稳态腔谐振器测量光学组件的非线性折射率-系数的过程。
机译: 双稳态谐振腔光学元件的非线性折光指数系数的测量方法