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Efficiency improved DRAM row redundancy circuit

机译:效率提高的DRAM行冗余电路

摘要

A redundancy scheme for a memory is disclosed which allows defect correction, particularly, word line to word line short correction (40, 36, 38, 18) through the use of a minimal number of redundant lines (RWL0, RWL1).
机译:公开了一种用于存储器的冗余方案,该方案允许通过使用最少数量的冗余线(RWL0,RWL1)来进行缺陷校正,特别是字线至字线短路校正(40、36、38、18)。

著录项

  • 公开/公告号EP0514164A3

    专利类型

  • 公开/公告日1993-06-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED;

    申请/专利号EP19920304339

  • 发明设计人 SUKEGAWA SHUNICHI;

    申请日1992-05-14

  • 分类号G06F11/20;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-22 05:06:03

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