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METHOD FOR CREEP TEST OF SAMPLES UNDER IRRADIATION CONDITIONS

机译：辐照条件下样品的蠕变测试方法

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use: test technology in u0438u0441u043fu044bu0442u0430u043du0438u00a0u0445 on creep. essence: the sample periodically excited free u043au043eu043bu0435u0431u0430u043du0438u00a0 hanging pattern. outside the u043fu043eu043bu00a0 u0438u0437u043bu0443u0447u0435u043du0438u00a0 likewise are standard. the creep model in the field u0438u0437u043bu0443u0447u0435u043du0438u00a0 u0441u0443u0434u00a0u0442 given u0438u0437u043cu0435u043du0435u043du0438u00a0 parameters u043au043eu043bu0435u0431u0430u043du0438u00a0 control model and its deformation. 5 u0437.u043f.u0444 - lu. .

机译：使用：在 u0438 u0441 u043f u044b u0442 u0430 u043d u0438 u00a0 u0445上的测试技术。本质：样品周期性激发自由的 u043a u043e u043b u0435 u0431 u0430 u043d u0438 u00a0悬挂图案。 u043f u043e u043b u00a0 u0438 u0437 u043b u0443 u0447 u0435 u043d u0438 u00a0之外的内容同样是标准的。给定的 u0438 u0437 u0432 u0434 u00a0 u0442的 u0438 u0437 u043b u0443 u0447 u0435 u0433 u0434 u00a0 u0442 u0435 u0434 u043c u0435 u043d u0435 u043d u043d u0438 u00a0参数 u043a u043e u043b u0435 u0431 u0430 u043d u0438 u00a0控制模型及其变形。 5 u0437。 u043f。 u0444-lu。。

著录项

公开/公告号SU01793316A1

专利类型
公开/公告日1993-02-07

原文格式PDF
申请/专利权人 МОСКОВСКИЙ ИНЖЕНЕРНО-ФИЗИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ;
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申请/专利号SU4851551
发明设计人 БАРАНОВ ВИКТОР МИХАЙЛОВИЧ;ВОЛОБУЕВ СЕРГЕЙ АЛЕКСЕЕВИЧ;ЛАВЕЙКИН ЛЕВ ИВАНОВИЧ;НАБОЙЧЕНКО КОНСТАНТИН ВЛАДИМИРОВИЧ;
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申请日1990-07-16
分类号G01N3/18;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 05:03:03

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