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Method of manufacturing an X-ray exposure mask and device for controlling the internal stress of thin films

机译:X射线曝光掩模的制造方法以及用于控制薄膜的内部应力的装置

摘要

An X-ray mask can be manufactured by forming an X-ray transmitting thin film on a mask support, forming an X-ray absorber thin film on the X- ray transmitting thin film, and patterning the X-ray absorber thin film with a desired pattern to form an X-ray absorber pattern. Prior to the patterning, at least one inert element with an atomic number greater than that of neon is ion-implanted in the X-ray absorber thin film.
机译:X射线掩模可以通过在掩模支撑件上形成X射线透射薄膜,在X射线透射薄膜上形成X射线吸收体薄膜,以及用X射线吸收体薄膜构图来制造。所需的图案以形成X射线吸收体图案。在图案化之前,将至少一个原子序数大于氖原子数的惰性元素离子注入到X射线吸收器薄膜中。

著录项

  • 公开/公告号US5188706A

    专利类型

  • 公开/公告日1993-02-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA;

    申请/专利号US19900494397

  • 发明设计人 MASARU HORI;MASAMITSU ITOH;

    申请日1990-03-16

  • 分类号G03F9/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 04:58:48

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