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The derutadopingu formation formation manner null due to the organicity metal chemical vapor deposition method of GaAs epitaxial formation on the Si

机译:由于硅上GaAs外延形成的有机金属化学气相沉积法,导致derutadopingu形成的方式无效

摘要

PURPOSE: To form a satisfactory GaAs delta-doping layer on an Si substrate while using metalorganic chemical vapor deposition (MOCVD). ;CONSTITUTION: When forming GaAs delta-doping on the Si substrate while utilizing MOCVD, a buffer layer exceeding 3 μm thickness is formed on the Si substrate and afterwards, the GaAs delta-doping layer is formed at a growing temperature of 700 to 750°C. Thus, the thermal dispersion of a dopant caused by a lot of transitions generated on a GaAs/Si interface can be prevented from being accelerated and an effect improving the characteristics of the GaAs delta- doping layer is generated.;COPYRIGHT: (C)1993,JPO
机译:目的:在使用金属有机化学气相沉积(MOCVD)的同时,在Si衬底上形成令人满意的GaAsδ掺杂层。 ;构成:利用MOCVD在Si衬底上形成GaAsδ掺杂时,在Si衬底上形成厚度超过3μm的缓冲层,然后,在700至750°的生长温度下形成GaAsδ掺杂层。 C。因此,可以防止由于在GaAs / Si界面上产生的大量跃迁而引起的掺杂剂的热扩散,并产生改善GaAsδ掺杂层特性的效果。(COPYRIGHT:(C)1993 ,日本特许厅

著录项

  • 公开/公告号JPH0672080B2

    专利类型

  • 公开/公告日1994-09-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 財団法人韓国科学技術研究院;

    申请/专利号JP19910192166

  • 发明设计人 閔 碩基;金 武性;金 湧;

    申请日1991-07-31

  • 分类号C30B25/18;C30B29/40;C30B29/42;H01L21/205;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 04:56:13

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