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A method of producing a metal silicide-silicon structure and a metal silicide-silicon structure

机译:金属硅化物-硅结构的制造方法以及金属硅化物-硅结构

摘要

A metal silicide-silicon structure (FIG. 2) is produced by depositing the same metal (M) on first - (12) and second (13) silicon regions and forming, in a single thermal conversion step, different metal silicide phases (MS1, MS2) on the first and second silicon regions owing to a difference in the dopant and/or dopant level between the first and second silicon regions. The different metal silicide phases can be tailored for different applications, including ohmic contacts, diode barrier contacts, interconnection lines, gate contacts, and diffusion barriers.
机译:通过在第一-(12)和第二(13)硅区域上沉积相同的金属(M)并在单个热转换步骤中形成不同的金属硅化物相(MS1)来生产金属硅化物-硅结构(图2)由于第一硅区域和第二硅区域之间的掺杂剂和/或掺杂水平不同,所以在第一硅区域和第二硅区域上存在MS2)。可以为不同的应用量身定制不同的金属硅化物相,包括欧姆接触,二极管势垒接触,互连线,栅极接触和扩散势垒。

著录项

  • 公开/公告号EP0199939B1

    专利类型

  • 公开/公告日1993-12-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 IBM;

    申请/专利号EP19860103209

  • 申请日1986-03-11

  • 分类号H01L21/285;H01L29/40;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-22 04:40:28

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