表征材料的方法,以用于共振分析仪的磁力计中,以用于此表征和光谱仪的校准方法。 p> & &它确定在参考频率fr附近待测材料的色散曲线的最大斜率值。为了这个目的,使用了可在喷头顶部定向的光谱仪,并且该光谱仪在1-2MHz的频率范围内操作。为了使得能够优化斜率,必须通过使线圈14经受已知校准的磁场的检测并且通过测量该线圈14的端子两端的电压来对光谱仪进行校准。 & &应用于电子顺磁共振材料的分类。 p>
公开/公告号DE68912247T2
专利类型
公开/公告日1994-07-07
原文格式PDF
申请/专利号DE1989612247T
申请日1989-07-19
分类号G01R33/24;G01R33/60;
国家 DE
入库时间 2022-08-22 04:35:15