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机译:压痕,划痕或摩擦学测试的方法和设备
公开/公告号GB9514366D0
专利类型
公开/公告日1995-09-13
原文格式PDF
申请/专利权人 RENISHAW PLC;CENTRE SUISSE DELECTRONIQUE ET DE MICROTECHNIQUE SA;
申请/专利号GB19950014366
发明设计人
申请日1995-07-13
分类号
国家 GB
入库时间 2022-08-22 04:05:59
机译: 压痕,刮擦或摩擦学测试的方法和装置
机译: 通过使用仪表指示测试技术,包括相同存储介质的计算机程序和通过使用存储介质进行仪表指示测试的指示测试装置来评估残余应力的方法