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机译:电触点动态接触电阻分析仪
公开/公告号JP2536988Y2
专利类型
公开/公告日1997-05-28
原文格式PDF
申请/专利权人 日本電気株式会社;
申请/专利号JP19900116807U
发明设计人 高屋 政志;
申请日1990-11-07
分类号G01R27/08;
国家 JP
入库时间 2022-08-22 03:30:41
机译: 电触点动态接触电阻分析仪
机译: 电阻具有中心电阻区域和外部连接部件,外部连接部件带有延伸平行/接触连接的棒型馈电连接,并具有中心电隔离/良好的热接触部分。
机译: 用于将导电部件电阻接合的接触电极,包括具有用于接触部件的接触区域的导电体和导电接收单元