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SYSTEM AND METHOD FOR CALIBRATING MULTI-AXIAL MEASUREMENT DEVICES IN THE PRESENCE OF A UNIFORM FIELD

机译:统一场下校准多轴测量装置的系统和方法

摘要

A calibration and measurement system for a multi-axial device isdisclosed which inciudes a memory for storing a set of test measurement valuesobtained from the multi-axial device in a substantially uniform field; and a calibrationtransformation generator for generating from the set of test measurement values tocalibrate the multi-axial device, with the set of test measurement values lying on amulti-dimensional surface.
机译:用于多轴设备的校准和测量系统是公开了一种存储器,该存储器包括用于存储一组测试测量值的存储器从多轴装置在基本均匀的场中获得;和校准转换生成器,用于从一组测试测量值生成校准多轴设备,将一组测试测量值放在一个多维表面。

著录项

  • 公开/公告号CA2180044A1

    专利类型

  • 公开/公告日1997-01-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 AT&T IPM CORP.;

    申请/专利号CA19962180044

  • 发明设计人 PALSTRA THOMAS T. M.;TELATAR IBRAHIM EMRE;

    申请日1996-06-27

  • 分类号G01V13/00;G01V3/00;G01V3/40;

  • 国家 CA

  • 入库时间 2022-08-22 03:23:38

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