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System and method for calibrating multi-axial measurement devices using multi-dimensional surfaces in the presence of a uniform field

机译:在均匀场存在下使用多维表面校准多轴测量设备的系统和方法

摘要

A calibration and measurement system for a multi-axial device is disclosed which includes a memory for storing a set of test measurement values obtained from the multi-axial device in a substantially uniform field; and a calibration transformation generator for generating from the set of test measurement values to calibrate the multi-axial device, with the set of test measurement values lying on a multi-dimensional surface.
机译:公开了一种用于多轴设备的校准和测量系统,该系统包括:存储器,用于在基本均匀的场中存储从多轴设备获得的一组测试测量值;以及存储器。校准变换生成器,用于从一组测试测量值生成以校准多轴设备,其中一组测试测量值位于多维表面上。

著录项

  • 公开/公告号US5694037A

    专利类型

  • 公开/公告日1997-12-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 LUCENT TECHNOLOGIES INC.;

    申请/专利号US19950506735

  • 发明设计人 THOMAS T. M. PALSTRA;IBRAHIM EMRE TELATAR;

    申请日1995-07-26

  • 分类号G01C25/00;G01R35/00;G01R33/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 02:40:54

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