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Mean Grain Size Determination Using Atomic Force Microscopy and Fractal Theory

机译:利用原子力显微镜和分形理论确定平均粒径

摘要

The present invention relates to a method for determining the size of the average crystal grains using atomic force microscope and fractal ions, the sample to be measured using an atomic force microscope or similar scanning atomic microscope and the following equation (1) According to distance;G (R) = [z (x, y) -z (x, y)] 2 ... (1);After calculating the G (R) value, graph the distance R and the G (R) value and set the distance to the point where the slope becomes horizontal as the average grain size.
机译:本发明涉及一种使用原子力显微镜和分形离子确定平均晶粒尺寸的方法,使用原子力显微镜或类似的扫描原子显微镜测量的样品以及根据距离的以下等式(1); G(R)= <[z(x,y)-z(x,y)] 2

著录项

  • 公开/公告号KR970048672A

    专利类型

  • 公开/公告日1997-07-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 김종진;신창식;

    申请/专利号KR19950055023

  • 发明设计人 홍재화;정인범;정재인;강정수;

    申请日1995-12-22

  • 分类号G02B21/00;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-22 03:16:51

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