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机译:用于工艺裕度测试的光掩模以及使用该掩模进行工艺裕度测试的方法
公开/公告号GB9711805D0
专利类型
公开/公告日1997-08-06
原文格式PDF
申请/专利权人 HYUNDAI ELECTRONICS INDUSTRIES CO LTD;
申请/专利号GB19970011805
发明设计人
申请日1997-06-06
分类号G03F1/44;G03F1/68;G03F7/20;H01L21/027;
国家 GB
入库时间 2022-08-22 03:11:19
机译: 用于工艺裕度测试的光掩模以及使用该掩模进行工艺裕度测试的方法
机译: 用于过程裕量测试的光掩膜利用此过程裕量测试方式