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Method of making a semiconductor device utilizing crystal orientation dependence of impurity concentration

机译:利用杂质浓度的晶体取向依赖性制造半导体装置的方法

摘要

A technique for manufacturing a semiconductor device includes the steps of preparing a stepped substrate made of a group III-V compound semiconductor and having a flat surface exposing a (1 0 0) plane and a slanted surface exposing an (n 1 1)B plane, wherein is a real number of about 1≦n, and epitaxially growing the group III-V compounds semiconductor to form an epitaxial layer on the surface of the stepped substrate while doping p- and n-type impurities, selectively at the same time or, alternatively, under conditions such that the grown epitaxial layer has an n-type region on the slanted surface and a p-type region on the flat surface.
机译:用于制造半导体器件的技术包括以下步骤:制备由III-V族化合物半导体制成的阶梯状衬底,该阶梯状衬底具有暴露(1 0 0)平面的平坦表面和暴露(n 1 1)B平面的倾斜表面。 ,其中的实数约为1n,然后外延生长III-V族化合物半导体以在台阶衬底的表面上形成外延层,同时选择性地掺杂p和n型杂质。或者,在使生长的外延层在倾斜表面上具有n型区域并且在平坦表面上具有p型区域的条件下。

著录项

  • 公开/公告号US5668048A

    专利类型

  • 公开/公告日1997-09-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FUJITSU LIMITED;

    申请/专利号US19950398506

  • 申请日1995-03-03

  • 分类号H01L21/20;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 03:09:25

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