首页> 外国专利> High purity dielectric thin film

High purity dielectric thin film

机译:高纯度电介质薄膜

摘要

PURPOSE: To obtain a dielectric thin film having a little leak current by using a perovskite titanate compd. containing specified metal elements and specifying the content of alkali metal impurities. ;CONSTITUTION: This dielectric thin film has a compsn. expressed by general formula MTiO3 (wherein M is one or more elements selected from Ba, Ca, Mg, Sr, Nb, Bi, Cd, Ce, and La) or general formula (Mx Pb1-x) TiO3 (wherein M is one or more elements selected from Ba, Ca, Mg, Sr, Nb, Bi, Cd, and Ce and 0x1). The content of alkali metal impurities in the compsn. is specified to ≤1ppm. A highly purified perovskite titanate compd. is used for this compsn. and dissolved in an org. solvent to prepare a coating liquid. The coating liquid is applied on a substrate, dried and calcined to form the dielectric thin film.;COPYRIGHT: (C)1993,JPO&Japio
机译:目的:通过使用复合钙钛矿钛酸盐获得具有很小泄漏电流的介电薄膜。包含指定的金属元素并指定碱金属杂质的含量。 ;组成:该介电薄膜具有复合物。用通式MTiO 3 表示(其中M是选自Ba,Ca,Mg,Sr,Nb,Bi,Cd,Ce和La的一种或多种元素)或通式(M x Pb 1-x )TiO 3 (其中M是选自Ba,Ca,Mg,Sr,Nb,Bi,Cd,和Ce和0

著录项

  • 公开/公告号JP2768109B2

    专利类型

  • 公开/公告日1998-06-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三菱マテリアル株式会社;

    申请/专利号JP19920024294

  • 发明设计人 善 英喜;曽山 信幸;小木 勝実;

    申请日1992-01-16

  • 分类号C23C14/34;C04B35/46;C23C16/40;H01L21/822;H01L27/04;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 03:01:23

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号