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Method of manufacturing VDMOS with a termination structure

机译:具有终端结构的vdmos的制造方法

摘要

A method for forming a semiconductor device includes forming insulated gate regions (122,222) on a substrate (26) using a first photo-masking step, forming a base region (47) through an opening (143) between the insulated gate regions (122,222), and forming a source region (152) within the base region (47). Next, a protective layer (61) is formed and selectively patterned using a second photo-masking step to form an opening (62) within the first opening (143) and an opening (63) above one of the insulated gate regions (122). Next, a portion (66) of the substrate (26) and a portion (67) of the insulated gate region (122) are removed. Ohmic contacts (74,76) are then formed and patterned using a third photo-masking step. Additionally, a termination structure (81) is described.
机译:一种形成半导体器件的方法,包括使用第一光掩模步骤在衬底(26)上形成绝缘栅区(122,222),通过绝缘栅区(122,222)之间的开口(143)形成基极区(47)。并在基极区(47)内形成源极区(152)。接下来,形成保护层(61)并使用第二光掩模步骤选择性地图案化保护层(61),以在第一开口(143)内形成开口(62),并在一个绝缘栅区(122)上方形成开口(63)。 。接下来,去除衬底(26)的一部分(66)和绝缘栅区(122)的一部分(67)。然后使用第三光掩模步骤形成欧姆接触(74,76)并构图。另外,描述了终端结构(81)。

著录项

  • 公开/公告号EP0782181A3

    专利类型

  • 公开/公告日1999-10-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MOTOROLA INC.;

    申请/专利号EP19960119955

  • 申请日1996-12-12

  • 分类号H01L21/336;H01L29/06;H01L29/78;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-22 02:19:58

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