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机译:测量尺寸分布,光学特性或颗粒浓度的方法
公开/公告号DE19724228A1
专利类型
公开/公告日1998-12-10
原文格式PDF
申请/专利权人 DYJA HOLGER 10829 BERLIN DE;
申请/专利号DE1997124228
发明设计人 DYJA HOLGER 10829 BERLIN DE;
申请日1997-06-03
分类号G01N15/02;G01N21/47;
国家 DE
入库时间 2022-08-22 02:13:18
机译: 用于测量光学粒子的装置,能够测量光学粒子的粒径分布和粒子数浓度
机译: 通过球面透镜测量分散体中颗粒的尺寸,尺寸分布和浓度的光学组件,包括光源和高折射率探头窗口
机译: 用于检测空气和气体中浮游物的大小分布,电荷分布和浓度的光学测量装置