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Integrated measurement detector uses CMOS techniques

机译:集成式测量检测器采用CMOS技术

摘要

The detector has at least one sensor formed using CMOS techniques. The detector also has a microprocessor or microcontroller. It further includes a processing, data and/or program memory and at least one data interface. These components are all arranged together, monolithically on a single CMOS measuring chip and the chip is sealed.
机译:该检测器具有至少一个使用CMOS技术形成的传感器。检测器还具有微处理器或微控制器。它还包括处理,数据和/或程序存储器以及至少一个数据接口。这些组件全部一起布置在一个CMOS测量芯片上,并且被密封。

著录项

  • 公开/公告号DE19754365A1

    专利类型

  • 公开/公告日1999-06-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利号DE1997154365

  • 发明设计人

    申请日1997-12-08

  • 分类号G01D21/00;H01L49/00;A61B5/00;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-22 02:13:03

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