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Contamination free source for shallow low energy junction implants

机译:浅层低能结植入物的无污染源

摘要

A method for forming a P-type region in a semiconducting crystalline substrate by ion implantation is disclosed, wherein the implant specie is an ionic molecule that contains titanium and boron.
机译:公开了一种通过离子注入在半导体晶体衬底中形成P型区域的方法,其中注入物是包含钛和硼的离子分子。

著录项

  • 公开/公告号US5891791A

    专利类型

  • 公开/公告日1999-04-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MICRON TECHNOLOGY INC.;

    申请/专利号US19970863993

  • 发明设计人 GURTEJ S. SANDHU;MOHAMMED ANJUM;

    申请日1997-05-27

  • 分类号H01L21/265;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 02:08:18

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