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Radio frequency test probe with integral mount for circuit board under test

机译:带有集成安装座的射频测试探头,用于被测电路板

摘要

A radio frequency (RF) test probe arrangement includes a test probe body with a probe for coupling with a RF port of a circuit to be tested, wherein the port has a RF terminal and a ground conductor in the vicinity of the RF terminal to define an operating impedance at the RF port. The probe includes an RF contact supported by the probe body for electrically contacting the RF terminal of the RF port of the circuit to be tested, and a ground contact fixed on the probe body in the vicinity of the RF contact, for electrically contacting the ground conductor at the RF port. A connector mounted on the probe body couples the probe with external test measurement instrumentation.
机译:射频(RF)测试探针装置包括测试探针主体,该测试探针主体具有用于与待测试电路的RF端口耦合的探针,其中该端口具有RF端子和在RF端子附近的接地导体以限定射频端口的工作阻抗。该探针包括:由探针主体支撑的RF触点,用于与被测试电路的RF端口的RF端子电接触;以及接地触点,其固定在探针主体上的RF触点附近,用于与地面电接触。射频端口上的导体。安装在探头主体上的连接器将探头与外部测试测量仪器耦合。

著录项

  • 公开/公告号US5945835A

    专利类型

  • 公开/公告日1999-08-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 LUCENT TECHNOLOGIES INC.;

    申请/专利号US19970811993

  • 发明设计人 PAUL R. MCDONOUGH;DENNIS A. OLEARY;

    申请日1997-03-05

  • 分类号G01R31/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 02:07:25

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