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AUTOMATED MULTIPOINT TRACE MATERIAL ANALYSIS DEVICE AND METHOD AND AUTOMATED TRACE MATERIAL ANALYSIS DEVICE AND METHOD

机译:自动化的多点痕量材料分析装置和方法以及自动化的痕量材料分析装置和方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To accurately and automatically analyze trace components in a short time. SOLUTION: An automated trace material analysis device comprises a sampling part 100 for capturing a sample containing a trace material, a concentrating part 200 having the function of concentrating the trace material in the sample captured by the sampling part, an analysis part 300 for analyzing and measuring the trace material concentrated, and a control part 400 automatically and integrally controlling each part. In this case, for one system of analyzer 61 in the analysis part 300, at least two systems of concentrating devices 26, 27 of the concentrating part 200 providing a concentrated reagent to the analyzer 61 are provided, and certain samples are supplied to the concentrating devices 26, 27 of each system by a plurality of parallel multipoint selector valves 21-24 from one series of samples independently captured at many points P1-P10.
机译:解决的问题:在短时间内准确,自动地分析痕量成分。解决方案:一种自动化的痕量材料分析装置,包括:采样部件100,用于捕获包含痕量材料的样品;浓缩部件200,其具有将由采样部件捕获的样品中的微量材料浓缩的功能;分析部件300,用于进行分析和分析。测量浓缩的痕量物质,并且控制部分400自动且整体地控制每个部分。在这种情况下,对于分析部300中的分析仪61的一个系统,设置了至少两个将浓缩试剂提供给分析仪61的浓缩部200的浓缩装置26、27的系统,并且将某些样品供给到浓缩仪中。每个系统的装置26、27通过在多个点P1-P10处独立捕获的一系列样品中的多个平行的多点选择阀21-24而被捕获。

著录项

  • 公开/公告号JP2000081422A

    专利类型

  • 公开/公告日2000-03-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NEC CORP;

    申请/专利号JP19990081067

  • 申请日1999-03-25

  • 分类号G01N30/04;G01N1/00;G01N30/08;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 02:01:15

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