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Method for measuring piezoelectric constant of thin film shaped piezoelectric material

机译:薄膜状压电材料的压电常数的测量方法

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号GB2332277B

    专利类型

  • 公开/公告日2000-08-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 * DAEWOO ELECTRONICS CO. LTD.;

    申请/专利号GB19970026060

  • 发明设计人 DONG-GUK * KIM;

    申请日1997-12-09

  • 分类号G01R29/22;

  • 国家 GB

  • 入库时间 2022-08-22 01:38:36

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