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SYSTEM AND METHOD FOR PREPARING TEST SPECIFICATION, AND SYSTEM AND METHOD FOR PREPARING TEST GRADE TRANSCRIPT

机译:准备测试规范的系统和方法,以及准备测试成绩单的系统和方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a test specification preparing system in which the test specification of the program is automatically prepared by inputting a program. SOLUTION: A program analyzing part 11 analyzes a program A and divides it into the symbol units of an algorithm chart. Also, a chart preparing part 12 receives the analytic result of the program analyzing part 11, and prepares an algorithm chart B corresponding to the program A. Moreover, a test item extracting part 13 receives the analytic result of the program analyzing part 11 and extracts the inspection item of the program A for each symbol of the algorithm chart. Then, a test specification preparing part 14 prepares a unit test specification C in which the inspection items extracted by the test item extracting part 13 are listed.
机译:要解决的问题:提供一种测试规范准备系统,其中通过输入程序自动准备程序的测试规范。解决方案:程序分析部分11分析程序A并将其划分为算法图表的符号单元。此外,图表准备部12接收程序分析部11的分析结果,并准备与程序A对应的算法图B。另外,检查项目提取部13接收程序分析部11的分析结果并提取对于算法图的每个符号,检查程序A的检查项目。然后,测试规范准备部分14准备单元测试规范C,其中列出了由测试项目提取部分13提取的检查项目。

著录项

  • 公开/公告号JP2001084135A

    专利类型

  • 公开/公告日2001-03-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TOSHIBA CORP;

    申请/专利号JP19990257290

  • 发明设计人 OKAYAMA TAKASHI;

    申请日1999-09-10

  • 分类号G06F9/06;G06F11/28;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 01:30:13

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