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机译:测定粉状物质比表面积的方法和装置
公开/公告号SK16102000A3
专利类型
公开/公告日2001-06-11
原文格式PDF
申请/专利权人 AUTEC S. R. O.;
申请/专利号SK20000001610
发明设计人 ZAVADIL MILAN;
申请日2000-10-24
分类号G01N7/00;
国家 SK
入库时间 2022-08-22 01:23:53
机译: 确定粉末状物质的比表面积的方法和执行该方法的设备
机译: 于测量质子自旋的质子的自旋晶格弛豫率确定多孔或粉末状材料比表面积的方法和装置
机译: 确定粉状黄原质物质比表面积的方法和实施该方法的装置