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SYSTEM FOR MEASURING THE SURFACE GEOMETRY AND SURFACE EVENNESS OF FLAT PRODUCTS

机译：平板产品表面几何形状和表面平整度测量系统

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摘要

The invention relates to a device for producing a pattern on a surface for measuring, using a projector and a slide. The invention also relates to various advantageous embodiments of the measuring system.

机译：用于在投影仪上产生图案的设备技术领域本发明涉及一种使用投影仪和滑块在测量表面上产生图案的设备。本发明还涉及测量系统的各种有利实施例。

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公开/公告号EP1114294A1

专利类型
公开/公告日2001-07-11

原文格式PDF
申请/专利权人 BETRIEBSFORSCHUNGSINSTITUT VDEH;
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申请/专利号EP19990947285
发明设计人 WINTER DETLEF;MUELLER ULRICH;SONNENSCHEIN DETLEF;STOCKMEYER RUDOLF;PEUKER GUSTAV;
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申请日1999-09-07
分类号G01B11/30;G01B11/24;
国家 EP
入库时间 2022-08-22 01:15:24

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