首页> 外国专利> Method and device for determining the quality of a connection between the optical waveguides

Method and device for determining the quality of a connection between the optical waveguides

机译:确定光波导之间的连接质量的方法和装置

摘要

The invention relates to a method for determining the quality of a connection, especially a thermal splice between optical waveguides. The inventive method comprises the steps: optically detecting the connection as at least one image; allocating data values, especially luminosity values, to the individual image areas; supplying a neuronal network with the data values; determining the quality of the connection by means of the configuration of the neuronal network; and outputting an evaluation with regard to the quality on the output side of the neuronal network.
机译:用于确定连接质量的方法技术领域本发明涉及一种用于确定连接质量,尤其是光波导之间的热接合的质量的方法。本发明的方法包括以下步骤:光学地将连接检测为至少一个图像;将数据值,尤其是亮度值分配给各个图像区域;向神经网络提供数据值;通过神经网络的配置确定连接的质量;在神经网络的输出侧输出关于质量的评估。

著录项

  • 公开/公告号DE19940775A1

    专利类型

  • 公开/公告日2001-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SIEMENS AG;

    申请/专利号DE1999140775

  • 发明设计人 DONABAUER ROMAN;RUEGENBERG GERVIN;

    申请日1999-08-27

  • 分类号G01M11/02;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-22 01:10:20

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号