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Semiconducting memory has control signal generation circuit, set/reset circuit, column address decoder circuit, memory cell field, delay circuit that can alter/vary reset signal delay time

机译:半导体存储器具有控制信号生成电路,设置/重置电路,列地址解码器电路,存储单元字段,可以更改/改变重置信号延迟时间的延迟电路

摘要

The memory device has a control signal generation circuit (2) for generating a set signal, a delay circuit (9), a set/reset circuit, a column address decoder circuit (5) and a memory cell field (6) for receiving the column address selection signal to perform a data transfer operation within a rise time duration of the signal. The delay circuit can alter or vary the delay time of the reset signal.
机译:该存储器件具有用于产生置位信号的控制信号生成电路(2),延迟电路(9),置位/复位电路,列地址解码器电路(5)以及用于接收信号的存储单元字段(6)。列地址选择信号,以在信号的上升时间内执行数据传输操作。延迟电路可以改变或改变复位信号的延迟时间。

著录项

  • 公开/公告号DE10035137A1

    专利类型

  • 公开/公告日2001-02-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NEC CORP. TOKIO/TOKYO;

    申请/专利号DE2000135137

  • 发明设计人 FUKUHARA HAYURU;

    申请日2000-07-19

  • 分类号G11C8/00;G11C29/00;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-22 01:09:43

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