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机译:用于测量紫外线辐射系统的传感器系统
公开/公告号DE20109220U1
专利类型
公开/公告日2001-08-30
原文格式PDF
申请/专利权人 DR. HOENLE AG;
申请/专利号DE2001209220U
发明设计人
申请日2001-06-01
分类号G01J1/42;
国家 DE
入库时间 2022-08-22 01:09:06
机译: 紫外线照射装置,参照紫外线照射装置,紫外线照射装置系统以及参照紫外线照射装置系统的性能检查方法
机译: 紫外线照射装置,紫外线照射方法,照明装置及紫外线照射系统
机译: 用紫外线照射紫外线固化墨水的方法,用于创建辐射数据的设备,图像形成系统,紫外线固化喷墨打印机,紫外线照射设备和打印设备