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Method for shaping photoresist mask to improve high aspect ratio ion implantation

机译:形成光刻胶掩模以改善高深宽比离子注入的方法

摘要

A method for making a ULSI MOSFET chip includes masking areas such as transistor gates with photoresist mask regions. Prior to ion implantation, the top shoulders of the mask regions are etched away, to round off the shoulders. This promotes subsequent efficient quasi-vertical ion implantation, commonly referred to as “high aspect ratio implantation” in the semiconductor industry.
机译:一种用于制造ULSI MOSFET芯片的方法,包括具有光刻胶掩模区域的掩模区域,例如晶体管栅极。在离子注入之前,蚀刻掉掩膜区域的顶部肩部,以使肩部变圆。这促进了随后的有效准垂直离子注入,通常被称为“高深宽比注入”。在半导体行业。

著录项

  • 公开/公告号US6200884B1

    专利类型

  • 公开/公告日2001-03-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ADVANCED MICRO DEVICES INC.;

    申请/专利号US19990364976

  • 发明设计人 CHIH-YUH YANG;MARK S. CHANG;

    申请日1999-07-31

  • 分类号H01L214/25;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 01:04:52

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