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Process for chemical vapor deposition of tungsten onto a titanium nitride substrate surface

机译:将钨化学气相沉积到氮化钛基板表面上的方法

摘要

A process for chemical vapor deposition of blanket tungsten thin films on titanium nitride proceeds by hydrogen reduction of tungsten hexafluoride at temperatures between 200° C. and 500° C. Tungsten film nucleation is preferably facilitated by a hydrogen plasma treatment of the titanium nitride surface of the substrate. The plasma treatment may be carried out in a separate etch chamber and transferred to a tungsten CVD chamber without intervening exposure to air, or, preferably, is carried out with a low energy etch performed with the substrate mounted on a susceptor in the chamber of the tungsten CVD reactor at which the tungsten film is to be applied.
机译:在氮化钛上化学气相沉积毯状钨薄膜的方法是通过在200℃至200℃之间的温度下六氟化钨的氢还原而进行的。 ℃和500℃;优选地,通过氢等离子体处理衬底的氮化钛表面来促进钨膜成核。等离子体处理可以在单独的蚀刻室中进行,并转移到钨CVD室中,而无需干预空气,或者,优选地,通过将​​低功率蚀刻进行,将基板安装在等离子体室中的基座上。钨CVD反应器,在该反应器上要镀钨膜。

著录项

  • 公开/公告号US6271121B1

    专利类型

  • 公开/公告日2001-08-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TOKYO ELECTRON LIMITED;

    申请/专利号US19990345051

  • 发明设计人 DOUGLAS A. WEBB;

    申请日1999-06-30

  • 分类号H01L214/763;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 01:03:42

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