机译:缺陷簇的恢复方法和装置,存储有缺陷的簇簇-恢复程序的记录介质,缓解电路的优化方法,过程控制方法,清洁室控制方法,半导体制造方法,过程和问题仪器,用存储提取程序记录介质的问题过程,以及检索母体的问题仪器和刮擦确定方法
公开/公告号JP2002141256A
专利类型
公开/公告日2002-05-17
原文格式PDF
申请/专利权人 TOSHIBA CORP;
申请/专利号JP20010065338
申请日2001-03-08
分类号H01L21/02;G06F17/18;G06F17/30;
国家 JP
入库时间 2022-08-22 00:58:31