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CUBIC METAL OXIDE THIN FILM EPITAXIALLY GROWN ON SILICON

机译:硅上立方生长的金属氧化物薄膜表观生长

摘要

A method of forming crystalline metal oxide thin films on silicon and the resultant structure. A crystalline buffer layer (10) of yttria-stabilized zirconia is deposited on a silicon substrate (12). A thin template layer (10) of an anisotropic perovskite such as bismuth titanate or yttria barium copper oxide is deposited on the template layer under conditions favoring c-axis oriented growth. A nominally cubic metal-oxide layer (16) is deposited on the template layer which facilitates its singly crystalline growth. The metal oxide, often a nominally cubic perovskite, may be a conductive electrode, a ferroelectric, a non-hysteretic dielectric, a piezoelectric, or other class of material.
机译:一种在硅上形成结晶金属氧化物薄膜的方法及所得结构。氧化钇稳定的氧化锆的晶体缓冲层(10)沉积在硅衬底(12)上。在有利于c轴定向生长的条件下,将各向异性钙钛矿例如钛酸铋或氧化钇钡铜氧化物的薄模板层(10)沉积在模板层上。标称立方金属氧化物层(16)沉积在模板层上,这有助于其单晶生长。金属氧化物,通常是名义上的钙钛矿,可以是导电电极,铁电体,非磁滞电介质,压电体或其他类型的材料。

著录项

  • 公开/公告号EP0654169B1

    专利类型

  • 公开/公告日2002-09-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TELCORDIA TECHNOLOGIES INC.;

    申请/专利号EP19930917126

  • 发明设计人 RAMESH RAMAMOORTHY;

    申请日1993-07-13

  • 分类号H01L21/3205;H01L21/316;H01L27/115;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-22 00:36:42

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