机译:LED的剩余寿命的测定方法,LED的再利用方法,装有LED的电子设备的寿命,LED安装的单元的剩余寿命的测定方法,LED安装的单元的再利用方法以及具有LED的安装单元的电子设备的再利用方法
公开/公告号JP2003142734A
专利类型
公开/公告日2003-05-16
原文格式PDF
申请/专利权人 SEIKO EPSON CORP;
申请/专利号JP20010336758
发明设计人 IGARASHI HITOSHI;
申请日2001-11-01
分类号H01L33/00;H04N1/00;
国家 JP
入库时间 2022-08-22 00:18:00