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DEPOSITION OF SILICON DIOXIDE AND SILICON OXYNITRIDE FILMS USING BIS (TERTIARYBUTYLAMINO) SILANE

机译:使用BIS(叔丁基丁胺)硅烷沉积二氧化硅和氧化硅薄膜

摘要

A process for the deposition on a substrate of a film of an oxygen containing silicon compound selected from the group consisting of silicon dioxide and silicon oxynitride by reacting bis (tertiarybutylamino) silane at an elevated temperature with a reactant gas selected from the group consisting of oxygen, ozone and mixtures thereof when said silicon compound is silicon dioxide or selected from the group consisting of a nitrogen oxide, ammonia and mixtures thereof when said silicon compound is silicon oxynitride. 3843 ט' בשבט התשס" ג - January 12, 2003
机译:通过在高温下使双(叔丁基氨基)硅烷与选自氧气的反应气体反应,将选自由二氧化硅和氧氮化硅组成的组的含氧硅化合物的膜沉积在基板上的方法当所述硅化合物为二氧化硅时,其为臭氧,臭氧及其混合物;或当所述硅化合物为氮氧化硅时,选自氮氧化物,氨及其混合物。 3843ט'בשבטהתשס“”-2003年1月12日

著录项

  • 公开/公告号IL130310B

    专利类型

  • 公开/公告日2003-01-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 AIR PRODUCTS AND CHEMICALS INC.;

    申请/专利号IL130310

  • 发明设计人

    申请日1999-06-04

  • 分类号C23C16/24;

  • 国家 IL

  • 入库时间 2022-08-22 00:02:41

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