要解决的问题:在将第一高频电路装置和第二高频电路装置组装到通过组装具有第一高频电路装置的第一高频电路装置而形成的高频模块中之前,要测量第一高频电路装置的特性。构成定向耦合器的两条非放射性电介质线中的两个非放射性电介质线和具有另一条非放射性电介质线的第二高频电路装置。
解决方案:通过使定向测量仪的结构与第二高频电路中形成的非放射性电介质线的结构接近另一个非放射性电介质,通过配置定向耦合器来测量第一高频电路装置的特性在第一高频电路装置中形成的定向耦合器的线。
版权:(C)2004,日本特许厅
公开/公告号JP2004128918A
专利类型
公开/公告日2004-04-22
原文格式PDF
申请/专利权人 MURATA MFG CO LTD;
申请/专利号JP20020290715
申请日2002-10-03
分类号H01P11/00;G01S7/03;G01S7/40;H01P3/16;H01P5/18;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 23:28:47