要解决的问题:提供一种通用技术,通过始终准确地表示存在于分析空间中的被分析对象(介质),来可靠,高精度地分析电磁场。
解决方案:导体用一条线表示,并且具有与该导体相交的一侧的单元格的表面被该导体分开。通常,将包括用于确定磁场强度的位置的分割面作为一个面来处理,并且将不包括该位置的分割面添加至相邻面。在与导体相交的一侧定义了两个电场强度。因此,使用积分路径ABCDEFA确定面部BCDE的磁场强度,并且使用积分路径AFGHA确定面部BEGH的磁场强度。
版权:(C)2004,日本特许厅
公开/公告号JP2004004054A
专利类型
公开/公告日2004-01-08
原文格式PDF
申请/专利权人 FFC:KK;YAMAMOTO KAZUO;
申请/专利号JP20030117582
申请日2003-04-22
分类号G01R29/08;G06F17/13;G06F17/50;G06F19/00;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 23:24:22