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Characterizing in-situ deformation of hard pellicle during fabrication and mounting with a sensor array

机译:在制造和安装传感器阵列期间表征硬质薄膜的原位变形

摘要

A system comprising a reticle, a pellicle and a plurality of sensors attached to at least one of the reticle or pellicle. The sensors are configured to sense in-situ strains on the pellicle as the pellicle is mounted to the reticle or frame.
机译:一种系统,包括标线片,防护膜和连接至标线片或防护膜中的至少一个的多个传感器。传感器被配置为在将防护膜组件安装到标线片或框架上时感测防护膜组件的原位应变。

著录项

  • 公开/公告号US2004194556A1

    专利类型

  • 公开/公告日2004-10-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INTEL CORPORATION;

    申请/专利号US20030407902

  • 发明设计人 GOUTAM PAUL;EMILY YIXIE SHU;

    申请日2003-04-03

  • 分类号G01L1/22;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 23:20:30

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