首页> 外国专利> Bi-directional epitaxial doping technique

Bi-directional epitaxial doping technique

机译:BI-directional epitaxial doping technique

摘要

A method of forming a semiconductor device on a substrate. The method includes forming a first epitaxial layer on the substrate. Next, a selected impurity is introduced to a surface of the first epitaxial layer. A second epitaxial layer is then formed on the surface of the first epitaxial layer and over the selected impurity. Finally, the selected impurity is driven through the first epitaxial layer and the second epitaxial layer to form the desired doped regions.
机译:一种在衬底上形成半导体器件的方法。该方法包括在衬底上形成第一外延层。接下来,将选择的杂质引入第一外延层的表面。然后在第一外延层的表面上和所选杂质上方形成第二外延层。最后,驱动选定的杂质穿过第一外延层和第二外延层,以形成所需的掺杂区。

著录项

  • 公开/公告号US6809003B1

    专利类型

  • 公开/公告日2004-10-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 POLARFAB LLC;

    申请/专利号US20030405718

  • 发明设计人 DANIEL J. FERTIG;

    申请日2003-04-02

  • 分类号H01L217/60;H01L270/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 23:19:20

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号