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Reference cell with various load circuits compensating for source side loading effects in a non-volatile memory

机译:具有各种负载电路的参考单元可补偿非易失性存储器中的源侧负载影响

摘要

A load circuit for compensating for source side loading effects in a non-volatile memory. Specifically, embodiments of the present invention describe a reference cell that is coupled to a plurality of load circuits. At least one of the plurality of load circuits, an mth load circuit, comprises a select transistor coupled to m resistors that are coupled in series. The mth load circuit matches a source side loading effect of a corresponding mth memory cell located m memory cells away from a source line node on a source line coupling source regions in memory cells of a row of memory cells.
机译:一种用于补偿非易失性存储器中源侧负载影响的负载电路。具体地,本发明的实施例描述了一种与多个负载电路耦合的参考单元。多个负载电路中的至少一个,第m个Sup负载电路,包括选择晶体管,该选择晶体管耦合到m个串联耦合的电阻器。第m 负载电路与位于耦合源极区域中源极线的源极线节点上距离源极线节点m个存储单元的相应m 存储器单元的源极侧负载效应相匹配。一行存储单元中的存储单元。

著录项

  • 公开/公告号US6754106B1

    专利类型

  • 公开/公告日2004-06-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ADVANCED MICRO DEVICES INC.;

    申请/专利号US20020245146

  • 发明设计人 YIDER WU;JIANG LI;JEAN YANG;

    申请日2002-09-16

  • 分类号G11C160/60;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 23:17:20

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