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Interferometric measuring device for determining the profile or the pitch of especially rough surfaces

机译:干涉测量设备,用于确定特别粗糙的表面的轮廓或间距

摘要

An interferometric measuring device for detecting the shape of rough surfaces includes a spatially coherent beam gun unit that emits a short time coherent and broad-band beam. The device is separated into a section containing the components of a modulation interferometer and the components of a measuring probe. The measuring probe is coupled to the modulation interferometer via an optical fiber arrangement, and used remotely from the modulation interferometer.
机译:用于检测粗糙表面形状的干涉测量设备包括发射短时相干宽带光束的空间相干光束枪单元。该设备分为一个部分,其中包含调制干涉仪的组件和测量探针的组件。测量探头通过光纤装置耦合到调制干涉仪,并且远离调制干涉仪使用。

著录项

  • 公开/公告号US6724485B1

    专利类型

  • 公开/公告日2004-04-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ROBERT BOSCH GMBH;

    申请/专利号US20000622802

  • 发明设计人 PAWEL DRABAREK;

    申请日2000-10-11

  • 分类号G01B90/20;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 23:13:53

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