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Process for etching a polycristalline Si1-xGex layer or stacked layers of polycristalline Si1-xGex and Si, and application to electronic devices

机译:蚀刻多晶体Si1-xGex层或多晶体Si1-xGex和Si的堆叠层的方法及其在电子器件中的应用

摘要

the etching process of a layer of polycrystalline si1 - xgex or a stack of a layer of polycrystalline si1 - xgex and a polycrystalline layer on a substrate, and, if applied with a mask to the surface of inorganic material, includes a step of etching, anisotr cfs, the layer of pile, using the mask.using a high density plasma of a gaseous mixture of gases consisting of chlorine (cl2), nitrogen (n2) or ammonia (nh3), which is a mixture of nitrogen and ammonia.;application: manufacture of grid structures for cmos devices.
机译:在基板上对多晶硅1-xgex层或多晶硅1-xgex层和多晶层的堆叠进行蚀刻的工艺,如果在无机材料表面上加掩模,则包括蚀刻步骤,隔离层,使用面罩,使用高密度等离子体,由包含氯气(cl2),氮气(n2)或氨气(nh3)的气体混合物组成,该气体是氮气和氨气的混合物。应用:制造用于cmos设备的网格结构。

著录项

  • 公开/公告号EP0905759B1

    专利类型

  • 公开/公告日2003-12-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FRANCE TELECOM;

    申请/专利号EP19980401433

  • 申请日1998-06-12

  • 分类号H01L21/3213;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 22:59:49

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