机译:16/32组合的PARA和TRACK,以及一个插座指南,特别考虑到仅在测试单元中更换测试板即可显着减少更换工作时间,即使在测试过程中改变了半导体芯片包装的大小
公开/公告号KR100446112B1
专利类型
公开/公告日2004-08-18
原文格式PDF
申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;
申请/专利号KR19970038934
申请日1997-08-14
分类号H01R13/62;
国家 KR
入库时间 2022-08-21 22:46:41