首页> 外国专利> Handheld device for non-destructive measurement of the thickness of thin layers comprises a probe and two thickness measurement displays positioned in different planes

Handheld device for non-destructive measurement of the thickness of thin layers comprises a probe and two thickness measurement displays positioned in different planes

机译:用于无损测量薄层厚度的手持式设备,包括一个探头和两个位于不同平面的厚度测量显示器

摘要

Device for non-destructive measurement of the thickness of thin layers has a housing (12) and a probe (14) that are connected to an analysis unit for transmission of signals that are processed by the analysis unit so that a layer thickness can be output to a display device (26). The device also has an additional display (36) that is placed outside the plane of the first display device.
机译:用于无损测量薄层厚度的设备具有外壳(12)和探头(14),它们连接到分析单元,用于传输由分析单元处理的信号,从而可以输出层厚度到显示设备(26)。该设备还具有放置在第一显示设备的平面之外的附加显示器(36)。

著录项

  • 公开/公告号FR2847036A1

    专利类型

  • 公开/公告日2004-05-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利号FR20030013040

  • 发明设计人

    申请日2003-11-06

  • 分类号G01B7/06;G01D11/00;G01D13/00;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-21 22:39:25

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号