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【2h】

Combined Thickness and Permittivity Measurement of Thin Layers with Open-Ended Coaxial Probes

机译：具有开放式同轴探针的薄层的组合厚度和介电常数测量

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Kjetil Folgero; Kjetil Haukalid; Jan Kocbach; Andreas Soto Peterson;
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年度 2018
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